一、產品定位與核心差異：按場景精準匹配，不浪費每一束光

二、分機型應用深度解析：精準匹配場景，檢測價值最1大化

1. UIH?1C：微米級高精檢測，微缺陷 “放大鏡"

• 半導體：拋光晶圓霧度、微劃痕、微小塵點，掩膜玻璃表面瑕疵檢測。

• 光學元件：小型鏡頭、棱鏡、光纖接頭的表面微劃痕、內部雜質識別。

• 精密電子：硬盤基板、微型元器件的微米級缺陷目視確認。

  推廣價值：

  中心亮度達60 萬 lux，配合非球面透鏡，激發強丁達爾效應，1μm 以下微氣泡、微劃痕清晰顯形，解決常規光源漏檢難題；自立式支架，適配實驗室、研發質檢、小批量高精抽檢工位，是高精尖小件檢測的黃金選擇。

2. UIH?2C：全能均衡型，產線通用 “主力擔當"

• 消費電子：手機蓋板玻璃、攝像頭鏡片、導光板的表面劃痕、內部氣泡快速抽檢。

• 光學組件：中型透鏡、濾光片、石英玻璃的表面 + 內部缺陷同步觀測。

• 新材料：透明樹脂、高潔凈容器的雜質、裂紋、內壁異物檢測。

  推廣價值：

  40 萬 lux中心亮度 +φ70mm 標準光斑，兼顧檢測精度與覆蓋效率；SCR 相位調光、50/60Hz 自動適配，滿足多材質切換需求；獨立支架 + 完1善散熱，適配產線連續作業，是中小尺寸工件批量檢測的通用主力，覆蓋 80% 常規精密檢測場景。

3. UIH?3C：大面積高效篩查，大尺寸工件 “專屬利器"

• 半導體：大尺寸晶圓、面板級掩膜玻璃的表面瑕疵、整體平整度檢測。

• 顯示行業：LCD/OLED 面板、大尺寸光學玻璃的快速全檢，提升產線效率。

• 高1端制造：航空航天、汽車精密組件的大面積表面缺陷篩查。

  推廣價值：

  φ100mm 大光斑，一次覆蓋更大面積，減少移動次數，檢測效率提升 50% 以上；搭載過熱監控（約 130℃強制熄燈）、冷卻自動停機，適配長時間高強度產線作業；30 萬 lux中心亮度，兼顧大面積覆蓋與缺陷識別力，是大尺寸工件高效質檢的最1優解。

三、三款機型協同推廣邏輯：構建全場景檢測解決方案

1. 按工件尺寸選型，一步到位

• 小尺寸高精件（晶圓、微型鏡頭）→ 選UIH?1C，抓微缺陷不遺漏。

• 中小尺寸通用件（蓋板玻璃、中型透鏡）→ 選UIH?2C，均衡高效性價比高。

• 大尺寸面板 / 晶圓 → 選UIH?3C，大面積覆蓋提速增效。

2. 按檢測場景組合，覆蓋全流程

• 研發 / 來料抽檢：UIH?1C 做高精判定。

• 產線批量全檢：UIH?2C 做主力通用。

• 大尺寸終檢：UIH?3C 做高效篩查。

  三款聯動，實現從研發到量產、從小件到大件的全鏈條品質管控，降低多設備采購成本。

3. 核心推廣賣點統一，強化品牌認知

• 技術統一：丁達爾效應 + 定制鹵素燈 + 非球面透鏡，缺陷可視化。

• 穩定統一：緩啟緩滅、強制風冷、過熱保護，延長光源壽命，降低運維成本。

• 適配統一：多角度調節、寬幅調光，兼容透明 / 不透明材質全場景檢測。

四、總結：精準分工，讓每一次檢測都高效可靠

• UIH?1C 守高精檢測底線，微缺陷無所遁形；

• UIH?2C 擔產線主力重任，通用高效性價比拉滿；

• UIH?3C 掌大面積檢測效率，大工件快速過關。